iN10 / iN10MX

Mikroskobik Kimyasal Tanımlamadan Gelişmiş Kimyasal Imaging’e Uzanan Entegre FT-IR Mikroskop Platformu

Thermo Scientific Nicolet iN10 ve Nicolet iN10 MX,  mikroskobik partiküllerin, yabancı maddelerin, ince filmlerin, liflerin, kaplamaların ve kompleks materyal yapılarının infrared mikrospektroskopik olarak analiz edilmesi için geliştirilmiş entegre FT-IR mikroskop sistemleridir. Harici bir FT-IR bench ünitesine ihtiyaç duymadan tek gövde içerisinde infrared spektrometre, yüksek hassasiyetli mikroskop ve akıllı analiz yazılımını bir araya getiren bu platform; mikron seviyesindeki numunelerde hem görsel hem kimyasal bilgi elde edilmesini sağlar.

Nicolet iN10 serisi, klasik partikül tanımlamanın ötesinde mikroskobik materyal dağılımı, kontaminasyon lokasyonu ve kimyasal heterojenlik analizi gibi ileri uygulamalara kadar uzanan profesyonel bir FT-IR mikroskop çözümüdür.

Sample Title

Sample Text

Ortak Platformun Öne Çıkan Özellikleri

  • All-in-one entegre FT-IR mikroskop tasarımı
  • Harici FT-IR spektrometre gerektirmeyen kompakt sistem
  • TruView™ simultaneous view & collect optik mimari
  • Transmission, Reflection ve ATR analiz modları
  • 50 µm seviyesine kadar mikro numune ölçümü
  • Mikroskoba özel yüksek throughput optik yol
  • Otomatik ayarlanabilir apertür sistemi
  • RT-DTGS standart, opsiyonel LN2 cooled MCT dedektör
  • OMNIC / OMNIC Picta akıllı mikroskopi yazılımı
  • Partikül, kontaminant ve materyal lokalizasyonunda yüksek doğruluk
     

Mikroskobik Numunelerde Doğrudan Kimyasal Tanımlama

Nicolet iN10 platformu, klasik ATR FT-IR cihazlarının analiz etmekte zorlandığı çok küçük veya lokal numune bölgelerini hedefleyerek infrared spektrum toplar. TruView optik sistemi sayesinde kullanıcı:

  • Mikroskobik Numuneyi Gerçek Zamanlı Görür,
  • Analiz Alanını Hassas Biçimde Seçer,
  • Seçilen Noktadan Doğrudan Ft-Ir Spektrumu Toplar.

Bu yapı özellikle:

  • Mikron Boyutlu Yabancı Partiküller,
  • Kaplama Kusurları,
  • Fiberler,
  • İnce Film Tabakaları,
  • Apı Dağılım Bölgeleri,
  • Gömülü Kontaminantlar gibi numunelerde son derece güçlü sonuç verir.
     

Üç Farklı Mikro Ölçüm Modu ile Esnek Kullanım

Transmission

İnce kesit, film, fiber ve yarı saydam mikron numuneler.

Reflection

Yüzey kusurları, opak materyaller, kaplamalar.

ATR

Lokal yüzey temaslı yüksek hassasiyetli partikül ve sert numune analizi.

Bu çok modlu yaklaşım FT-IR mikroskobu farklı sektörlerde geniş kullanım alanına taşır.
 

Başlıca Kullanım Alanları

  • Mikroskobik Kontaminant Analizi
  • Partikül Kimliklendirme
  • Failure & Defect İnvestigation
  • API Dağılım İncelemeleri
  • Kompozit Ve Laminate Karakterizasyonu
  • Mikroplastik Analizleri
  • Fiber Ve İnce Film Tanımlama
  • Forensic Mikrospektroskopi
  • Gelişmiş Chemical İmaging Çalışmaları
Parametre Nicolet iN10 Nicolet iN10 MX
Sistem Tipi Entegre FT-IR Mikroskop Entegre FT-IR Imaging Mikroskop
Ölçüm Modları Transmission / Reflection / ATR Transmission / Reflection / ATR
Minimum Numune Boyutu ~50 µm ~50 µm
Mekansal Çözünürlük ~10–30 µm 10–20 µm / ATR’de ~4 µm
Dedektörler DTGS / Ops. MCT DTGS / MCT / Imaging MCT Array
Noktasal Analiz Var Var
Mapping Temel Çok Hızlı Hyperspectral Imaging
Kimyasal Dağılım Haritası Sınırlı Gelişmiş 2D Chemical Imaging
Yazılım OMNIC OMNIC Picta + Specta