Öne Çıkan Özellikler

• Monokromatik Mikro-Fokus Al Kα X-Ray Kaynağı
• 30–400 µm Arası Ayarlanabilir Analiz Spotu
• 180° Çift Odaklı Hemisferik Enerji Analizörü
• 128 Kanallı Paralel Dedektör İle Hızlı Veri Toplama
• Dual Beam Charge Compensation İle Yalıtkan Numune Analizi
• EX06 Argon İyon Kaynağı İle Depth Profiling
• Otomatik Numune Hizalama Ve Hızlı Analiz Workflow’u
• Avantage Yazılım İle Tam Entegre Veri İşleme 

 

Yüksek Çözünürlüklü Yüzey Analizi

K-Alpha XPS, numune yüzeyinin ilk birkaç nanometrelik kısmından gelen fotoelektronları ölçerek: 

• Yüzey Elemental Kompozisyonu,
• Oksidasyon Basamağı,
• Kimyasal Bağ Yapısı,
• Kaplama Kalınlığı,
• Yüzey Kontaminasyonu Gibi Kritik Bilgileri Yüksek Doğrulukla Ortaya Çıkarır. 

Mikro-fokus monokromatik X-ray kaynağı sayesinde küçük analiz alanlarında dahi güçlü sinyal ve yüksek enerji çözünürlüğü elde edilir.

Gelişmiş Analizör ve Dedektör Sistemi

Sistem, 180° double focusing hemispherical analyzer ve 128-channel detector kombinasyonu ile yüksek count rate ve hızlı snapshot acquisition sağlar. Bu yapı: 

• Daha Kısa Analiz Süreleri,
• Daha Yüksek Sinyal Kararlılığı,
• Daha Net Chemical State Ayrımı Sunarak Özellikle Çoklu Numune Analizlerinde Laboratuvar Verimliliğini Artırır.

 

Yalıtkan ve Çok Katmanlı Numunelerde Güçlü Performans

Patentli dual beam charge neutralization sistemi sayesinde polimer, seramik, cam ve kaplama gibi yalıtkan yüzeylerde güvenilir XPS ölçümü yapılabilir.

Entegre EX06 argon iyon kaynağı ise: 

• Sputter Cleaning,
• Derinlik Profilleme,
• İnce Film Katman Analizi Uygulamalarında Yüksek Tekrarlanabilirlik Sağlar. 

 

Kullanıcı Dostu Otomasyon

K-Alpha platformu tam otomatik analiz iş akışı ile: 

• Otomatik Numune Tanımlama,
• Reçete Bazlı Analiz,
• Otomatik Peak Fitting,
• Element Ve Kimyasal Durum Tanımlama,
• Hazır Raporlama İmkanı Sunar.

Bu sayede uzman olmayan kullanıcılar için bile hızlı ve güvenilir sonuç üretilebilir.