Analitik Çözümlere Açılan Kapı...
J200
Katı Numunelerde Hızlı, Hassas ve Doğrudan Elementel Analizin Yeni Standardı
Üst Düzey Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) Platformu
Applied Spectra J200 LIBS, katı numunelerin hiçbir kimyasal ön hazırlık gerektirmeden doğrudan analiz edilmesini sağlayan, yüksek hassasiyetli ve araştırma sınıfı bir Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) sistemidir.
Tek bir lazer atımı ile oluşan plazmadan yayılan emisyon ışığını yüksek verimle toplayarak, numune yüzeyindeki elementel kompozisyonu saniyeler içinde belirler. Geleneksel yaş kimya yöntemlerine göre çok daha hızlı, çevreci ve düşük işletme maliyetli olan bu teknoloji; laboratuvar analizlerinden üretim hattı kalite kontrolüne kadar geniş bir kullanım alanı sunar.
J200 LIBS; özellikle yüksek doğruluk, yüksek tekrar edilebilirlik ve düşük ppm seviyelerinde dedeksiyon gerektiren zorlu uygulamalar için geliştirilmiştir.
Neden Applied Spectra J200 LIBS?
Tek Bir Lazer Atımında Güçlü Kimyasal Bilgi
Applied Spectra J200 LIBS, klasik LIBS sistemlerinin en önemli problemleri olan:
Sonuç olarak kullanıcıya:
Öne Çıkan Teknolojik Avantajlar
■ Do ğrudan Kat ı Numune Analizi
Numune çözündürme, asit yakma, presleme veya kompleks hazırlık işlemleri olmadan metal, seramik, jeolojik örnek, toprak, pil malzemesi, boya, cam, yarı iletken ve biyolojik materyaller doğrudan analiz edilir.
■ Tek Haneli ppm Seviyesinde Hassasiyet
Applied Spectra tarafından optimize edilen plazma emisyon toplama optiği sayesinde birçok element için single-digit ppm düzeyinde dedeksiyon sınırı elde edilir.
■ Patentli ASI Otomatik Y üzey Odaklama Teknolojisi
Numune yüzeyindeki yükseklik farklılıklarını otomatik kompanse ederek her lazer pulse’ında aynı odak kalitesini korur. Bu da ölçüm doğruluğu ve tekrar edilebilirliği ciddi biçimde artırır.
■ Optimize Plazma I şık Toplama Sistemi
Maksimum plazma fotonunun dedektöre aktarılması ile düşük konsantrasyonlarda dahi güçlü spektral sinyal elde edilir.
■ Çoklu Dedekt ör ve Spektrometre Konfig ürasyonu
Uygulamaya özel farklı spektrometre kombinasyonları ile geniş spektral kapsama ve esnek metod geliştirme imkanı sunar.
■ Y üksek Çöz ün ürl ükl ü Element Mapping
Motorize XYZ stage ile büyük yüzeylerde mikron çözünürlükte 2D/3D kimyasal dağılım haritaları oluşturabilir.
■ Depth Profiling Yetene ği
Katmanlı kaplamalar, ince film yapıları, difüzyon tabakaları ve yüzey modifikasyonlarında derinliğe bağlı element değişimi izlenebilir.
■ Üretim Hatt ına Uygun H ızl ı Proses Kontrol
Analiz süresi saniyeler mertebesinde olduğundan proses içinde anlık kalite izleme ve malzeme ayrıştırma uygulamalarında kullanılabilir.
Uygulama Alanları
Applied Spectra J200 LIBS çok
geniş bir sektör yelpazesinde kullanılmaktadır:
