Neden Applied Spectra J200 LA?

ICP-MS Sisteminizin Katı Numune Analiz Yeteneğini Bir Üst Seviyeye Taşıyın

J200 LA platformu, yalnızca lazer atış yapan bir numune alma modülü değil; ICP-MS analiz zincirinin tamamını optimize eden akıllı bir örnekleme istasyonudur.

Sistem:

• Homojen Aerosol Üretimi
• Yüksek Taşıma Verimliliği
• Düşük Washout Süresi
• Yüksek Tekrarlanabilirlik
• Düşük Matrix Etkisi
•  Hassas Mikro-Nokta Ablasyonu Sağlayarak Eser Elementlerden İzotopik Dağılımlara Kadar Güvenilir Sonuç Üretir. 

Öne Çıkan Teknolojik Avantajlar

■ Do ğrudan Kat ı Numune Analizi

Kimyasal çözündürme, asitle sindirim veya uzun numune hazırlama prosedürlerine gerek kalmadan katı numune üzerinden doğrudan analiz imkanı sağlar.

■ Y üksek Hassasiyetli Mikro Spot Ablasyonu

Mikron seviyesinde kontrollü ablasyon ile lokal element dağılımı ve heterojen yapıların detaylı incelenmesini mümkün kılar.

■ Element ve  İzotop Mapping

2D ve 3D kimyasal görüntüleme sayesinde numune içerisindeki element dağılımı yüksek çözünürlükte haritalanabilir.

■ Depth Profiling

Çok katmanlı kaplamalar, ince filmler, yüzey modifikasyonları ve difüzyon çalışmalarında derinlik boyunca konsantrasyon değişimleri izlenebilir.

■ Otomatik Numune Y ükseklik Takibi

Pürüzlü veya homojen olmayan yüzeylerde odak noktasını otomatik koruyarak stabil ablasyon sağlar.

■ Optimize Gaz Ak ış Kontrol ü

Yüksek hassasiyetli transport gas kontrol sistemi ile oluşan partiküllerin ICP-MS plazmasına hızlı ve kayıpsız transferi sağlanır.

■  Çift Kamera Numune G ör ünt üleme Sistemi

Analiz alanının yüksek büyütmede seçimi, spot doğrulama ve ablasyon yolunun gerçek zamanlı izlenmesini sağlar.

■ Mod üler LIBS Geni şleme Opsiyonu

İstenirse sistem Tandem LA-LIBS konfigürasyonuna yükseltilerek daha geniş element kapsaması elde edilebilir.