X-IŞINI FOTOELEKTRON SPEKTROSKOPİSİ (XPS)

İzotop Oranı Kütle Spektroskopisi (IRMS), malzeme yüzeylerinin elementel bileşimini ve kimyasal bağ durumlarını analiz etmek için kullanılan gelişmiş bir yüzey karakterizasyon tekniğidir. Bu yöntemde numune yüzeyi X-ışınları ile uyarılır ve yayılan fotoelektronların enerjileri ölçülerek yüzeyin kimyasal yapısı belirlenir. XPS teknolojisi, tipik olarak numunenin ilk 1–10 nm yüzey tabakasını analiz eder ve bu nedenle ince film, kaplama ve yüzey modifikasyonu çalışmalarında kritik bir rol oynar. XPS sistemi ile Hidrojen ve Helyum hariç periyodik tabloda yer alan çoğu element analiz edilebilir. Metaller (Fe, Al, Cu, Ni, Ti) , Yarı iletken elementler (Si, Ge) , Seramik bileşenler (O, N, C) , Kaplama elementleri (Cr, Zn).  

XPS Sistemlerinin Temel Bileşenleri

  • X-Işını Kaynağı
  • Ultra Yüksek Vakum Sistemi
  • Elektron Enerji Analizörü
  • Numune Taşıyıcı Ve Manipülatör
  • İyon Sputter Sistemi (Derinlik Profili İçin)
  • Dedektör
  • Veri İşleme Yazılımı

XPS Teknolojisinin Avantajları

  • Yüzeye Duyarlı Analiz (Nm Seviyesinde)
  • Elementel Kompozisyon Belirleme
  • Kimyasal Bağ Durumu Analizi
  • Kantitatif Yüzey Analizi
  • Derinlik Profili Oluşturabilme
  • Geniş Malzeme Uyumluluğu

 

XPS Nasıl Çalışır?

XPS analiz süreci genel olarak aşağıdaki adımlardan oluşur:

  1. Numune Ultra Yüksek Vakum Ortamına Alınır
  2. X-Işınları Numune Yüzeyine Gönderilir
  3. Fotoelektronlar Yüzeyden Kopar
  4. Elektronların Kinetik Enerjileri Ölçülür
  5. Bağ Enerjileri Hesaplanır
  6. Element Ve Kimyasal Durum Belirlenir

Bu süreç sayesinde XPS, yüzeyin hem elementel hem de kimyasal bilgisini sağlar.

XPS Uygulama Alanları

XPS teknolojisi birçok farklı alanda kullanılmaktadır: 

  • İnce Film Ve Kaplama Analizi
  • Yüzey Modifikasyonu Çalışmaları
  • Yarı İletken Endüstrisi
  • Polimer Ve Plastik Araştırmaları
  • Metal Yüzey Karakterizasyonu
  • Batarya Ve Enerji Malzemeleri
  • Korozyon Çalışmaları
  • Üniversite Ve Ar-Ge Laboratuvarları

XPS Teknolojisinin Öne Çıkan Özellikleri

  • Yüzey Kimyası Analizi
  • Kimyasal Durum Belirleme
  • Derinlik Profilleme
  • Haritalama (Mapping) İmkanı
  • Kantitatif Yüzey Analizi
  • Yük Nötralizasyon Sistemi

Modeller

K-ALPJA

NEXA G2

ESCALAB QXi

 HYPULSE

Videolar