Öne Çıkan Özellikler  

• Monokromatik Yüksek Verimli Mikro-Fokus Al Kα X-Ray Kaynağı
• 10–400 µm Arası Ayarlanabilir Mikro Analiz Spotu
• 180° Çift Odaklı Hemisferik Enerji Analizörü
• 128 Kanallı Paralel Dedektör İle Hızlı Veri Toplama
• Co-Axial Dual Beam Charge Compensation Sistemi
• EX06 Veya MAGCIS İyon Kaynağı İle Gelişmiş Sputter Ve Depth Profiling
• UPS, ISS, REELS Ve Raman Entegrasyon Opsiyonları
• Tam Otomatik Avantage Yazılım Platformu  

 

Çok Yönlü Yüzey Karakterizasyonu

Nexsa XPS, standart XPS ölçümlerinin yanında opsiyonel çoklu teknik entegrasyonu ile:

• Yüzey Elemental Analiz,
• Kimyasal Durum Tayini,
• Valans Band İncelemesi,
• İyon Saçılma Analizi,
• Raman Korelatif Karakterizasyon,
• İnce Film Derinlik Profilleme uygulamalarını tek platform üzerinde gerçekleştirebilir.
  

Bu yapı, araştırma laboratuvarlarında farklı cihaz ihtiyacını azaltarak daha kapsamlı veri elde edilmesini sağlar.

 

Yüksek Hassasiyetli Mikro Bölgesel Analiz

10 µm’ye kadar düşebilen analiz spotu ve yüksek verimli X-ray optiği sayesinde Nexsa:

• Lokal Kontaminasyon İncelemeleri,
• Mikro Kaplama Analizi,
• Partikül Yüzey Karakterizasyonu,
• Arıza Ve Failure Analysis gibi uygulamalarda yüksek uzaysal çözünürlük sunar.

 

Gelişmiş İyon Kaynağı ve Otomasyon

EX06 ve opsiyonel MAGCIS dual mode iyon kaynakları ile:

• Hassas Sputter Cleaning,
• Cluster İon Depth Profiling,
• Organik/İnorganik Katman Analizleri yüksek tekrarlanabilirlikle gerçekleştirilebilir.
  

Avantage yazılım altyapısı ise otomatik numune hizalama, reçete bazlı analiz ve gelişmiş veri işleme ile kullanıcı müdahalesini minimuma indirir.