Öne Çıkan Özellikler

• Multicollector (Çoklu Dedektör) ICP-MS Teknolojisi
• Yüksek Doğrulukta İzotop Oran Analizi
• Manyetik Sektör Kütle Analizörü
• Eş Zamanlı Çoklu İyon Demeti Ölçümü
• Ultra Düşük Sinyal Gürültü Oranı
• Geniş Dinamik Aralık
• Küçük Numune Miktarlarında Yüksek Hassasiyet
• MS/MS Yükseltme Opsiyonu
• Laser Ablation Ve Kromatografi Sistemleri İle Uyumluluk
   

MC-ICP-MS Teknolojisi

Multicollector ICP-MS sistemleri, iyon demetlerini eş zamanlı olarak birden fazla dedektörde ölçerek izotop oranlarında çok yüksek doğruluk sağlar. Bu yaklaşım, ardışık ölçümlerde oluşabilecek sinyal driftlerini ortadan kaldırır.

• Eş Zamanlı İzotop Ölçümü
• Yüksek Tekrarlanabilirlik
• Ultra Düşük Ölçüm Belirsizliği
• İzotop Jeokimyası İçin İdeal Çözüm
   

Teknik Özellikler

Kütle Analizörü

• Tip: Çift Odaklamalı Manyetik Sektör (Nier-Johnson)
• Yüksek Kütle Çözünürlüğü
• Stabil Pik Pozisyonu
• Geniş Kütle Aralığı

Neoma sistemi yüksek çözünürlük ve stabil pik pozisyonu sayesinde izobarik interferansların ayrımını mümkün kılar. 

Dedektör Konfigürasyonu

• Çoklu Faraday Cup Dedektörleri
• Secondary Electron Multiplier (SEM)
• Hareketli Kolektör Sistemi
• Multi İon Counting Seçenekleri

Çoklu kolektör mimarisi, eş zamanlı iyon demeti ölçümü ile yüksek hassasiyetli izotop oranı analizini mümkün kılar. 

Amplifikatör Teknolojisi

• 10¹³ Ω Amplifikatör Opsiyonu
• Ultra Düşük Gürültü
• Geniş Dinamik Aralık
• Düşük Yoğunluklu İyon Demetleri İçin Optimize

Yüksek empedanslı amplifikatörler, çok küçük numune miktarlarında bile hassas ölçüm sağlar.

Jet Interface Teknolojisi

• Yüksek Hassasiyet
• Düşük Numune Tüketimi
• Desolvating Sistemlerle Uyum

Jet interface seçeneği, standart plazmaya göre 10–20 kat daha yüksek hassasiyet sağlayabilir. 

Çözünürlük Seçenekleri

• Düşük Çözünürlük: Maksimum Hassasiyet
• Orta Çözünürlük: İnterferans Ayrımı
• Yüksek Çözünürlük: Karmaşık Matrisler

Bu yapı, farklı uygulamalar için optimum performans sağlar. 

Opsiyonel Teknolojiler

• XHR (Extra High Resolution)
• RPQ (Retarding Potential Quadrupole)
• Multi Ion Counting (MIC)
• MS/MS yükseltme opsiyonu

Bu teknolojiler, izobarik interferansların giderilmesi ve düşük bolluktaki izotopların ölçümü için geliştirilmiştir. 

Performans Özellikleri

• Yüksek Hassasiyetli İzotop Oran Ölçümü
• Ultra Düşük Ölçüm Belirsizliği
• Geniş Dinamik Aralık
• Yüksek Stabilite
• Düşük Arka Plan Gürültüsü
• Küçük Numune Miktarı Gereksinimi

Neoma MC-ICP-MS, yüksek hassasiyet ve doğruluk sağlayarak zor izotop sistemlerinin analizine olanak tanır. 

Numune Giriş Seçenekleri

• Standart nebülizasyon sistemi
• Desolvating sistemler
• Laser Ablation (LA-MC-ICP-MS)
• Kromatografik coupling (HPLC / GC)

Bu seçenekler, çok farklı uygulamalara uyum sağlar.